กล้องจุลทรรศน์กำลังอะตอม
-
กล้องจุลทรรศน์ AFM แรงอะตอม
ยี่ห้อ: NANBEI
รุ่น：AFM
Atomic Force Microscope (AFM) ซึ่งเป็นเครื่องมือวิเคราะห์ที่สามารถใช้เพื่อศึกษาโครงสร้างพื้นผิวของวัสดุที่เป็นของแข็ง รวมทั้งฉนวนโดยศึกษาโครงสร้างพื้นผิวและคุณสมบัติของสารโดยการตรวจจับปฏิกิริยาระหว่างอะตอมมิกที่อ่อนแออย่างยิ่งระหว่างพื้นผิวของตัวอย่างที่จะทดสอบกับองค์ประกอบที่ไวต่อแรงไมโคร
